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微电子所与是德科技有限公司共建110GHz on-wafer片上测试系统

微电子所与是德科技有限公司共建110GHz on-wafer片上测试系统

  近日,中国科学院微电子研究所与是德科技有限公司合作搭建了110GHz on-wafer片上测试系统。该系统是目前业界芯片测试领域频率最高的裸片测试平台,代表了国内科腾讯分分彩研院所在集成电路设计及加工领域的最先进水平。

  片上测试需要器件S参数及直流I/V、C/V特性曲线这两项主要技术参数。在测试中,该系统具有较为突出的优势:PNA-X可全频段扫描从10MHz直到110GHz,且具有单次连接、多种参数同时测量的强大功能,极适用于on-wafer测试配合腾讯分分彩探针台使用;B1500A半导体器件分析仪是一款具有10插槽配置的模块化仪器,支持全功能I/V、C/V曲线表征及快速高电压脉冲和快速脉冲测量;该系统还拥有专用于芯片测试的EDA软件IC-CAP,此软件可控制PNA-X、B1500A和探针台协同工作、自动测量。

  随着微波电路的工作频率不断腾讯分分彩升高,芯片的工作频率逐渐提升到毫米波波段。微电子所自2008年开始W波段器件的研究,如今已成功采用InP技术设计加工完成多款W波段芯片。

  是德科技有限公司是全球电子测量技术和市场的领导者,该公司所生产的电子测量仪器、系统、相关软件以及软件设计工具和服务,可广泛应用于电子设备的设计、研发、制造、安装、部署和运营。

110GHz on-wafer片上测试系统